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ORION Kit di vetri di prova pianparalleli
Per gamma di misurazione 0–25 mm
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Prodotti
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Applicazioni
Per la misurazione simultanea del parallelismo e della planarità di superfici di misurazione piane su micrometri e calibri passa/non passa con quadrante tramite il metodo dell'interferenza
Modello
- quattro diversi spessori, per prove di parallelismo in diverse posizioni del mandrino (per mandrini di misurazione rotanti)
- Per micrometri con passo di 0,5 mm
Fornitura
In cassetta
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