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TESA TECHNOLOGY
TESA TECHNOLOGY Vetri di prova pianparalleli individuali

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TESA TECHNOLOGY Vetri di prova pianparalleli individuali

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Applicazioni

Per la misurazione simultanea del parallelismo e della planarità di superfici di misurazione piane su micrometri e calibri passa/non passa con quadrante tramite il metodo dell'interferenza

Modello

  • Vetri di prova pianparalleli individuali
  • Per micrometri con passo di 0,5 mm

Fornitura

in valigetta