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Prodotti
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Applicazioni
Per la misurazione simultanea del parallelismo e della planarità di superfici di misurazione piane su micrometri e calibri a forchetta con quadrante tramite il metodo dell'interferenza
Modello
- 4 diversi spessori, per prove di parallelismo in diverse posizioni del mandrino (per mandrini di misurazione rotanti)
Fornitura
In cassetta
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